ICP光譜儀具采用等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù),有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬等特性,在ICP-OES領(lǐng)域開拓了全新的應(yīng)用,可分析包括ppm級鹵素在內(nèi)的73個金屬和非金屬元素。
在做定量測量前,必須先做分析線的定義。在Method的LineDefinition窗口中,點(diǎn)擊Method/Analysis/SingleMeasurements測量一個高濃度的標(biāo)樣后,確定分析線的峰高、背景、積分范圍等相關(guān)定量參數(shù)?;蛘{(diào)入已保存的光譜圖定義以上參數(shù)。
然后點(diǎn)擊工作站左邊工具箱中的Analysis按鈕進(jìn)入分析測量窗口。如果是用自動進(jìn)樣器進(jìn)樣,在自動進(jìn)樣器窗口中點(diǎn)擊F5,按自動進(jìn)樣器的編輯方法進(jìn)樣。若要停止進(jìn)樣,點(diǎn)擊Esc。以上操作可點(diǎn)擊工具欄上相應(yīng)的快捷鍵。以下是手動進(jìn)樣的操作過程說明。
把吸樣管放入要測的標(biāo)樣中,點(diǎn)擊Analysis/MethodMeasurements,選擇要測的標(biāo)樣名,點(diǎn)擊Measure,測量完成后,點(diǎn)擊Analysis/SampleFinish。然后按順序測完標(biāo)準(zhǔn)系列,再點(diǎn)擊Calculate,回到Method窗口,得到工作曲線。如果不能得到工作曲線,是由于軟件計算出的工作曲線的相關(guān)系數(shù)小于設(shè)定值。
把吸樣管放入要測的樣品中,若測量一次點(diǎn)擊Analysis/SingleMeasurements,若測量多次點(diǎn)擊Analysis/MultipleMeasurements,測量完成后,點(diǎn)擊Analysis/SampleFinish。